精确测量ADC采样保持电容的充放电时间误差，需从硬件和软件两方面入手。首先，硬件上，在ADC输入引脚并联一个已知容值的电容（如10pF）和低ESR电阻，通过外部信号源（如DAC或PWM滤波）产生阶跃信号，用示波器（高带宽探头）观测采样保持电容的充放电波形，记录时间常数τ=RC。软件上，利用STM32F4的ADC内置采样时间寄存器（SMPR）设置不同采样周期（如3、15、84、480周期），对同一稳定电压多次采样，比较转换结果差异，拟合出误差曲线。补偿策略：对于动态信号，根据信号频率和采样率，在固件中引入查表法或多项式拟合，对采样值进行线性或非线性校正；对于静态信号，可通过校准模式（ADC_CR2的CAL位）消除偏移误差，但充放电时间误差主要影响动态精度，建议采用过采样+数字滤波（如移动平均）来平滑误差。实操建议：使用DMA循环采样，结合定时器触发，确保采样时刻精确；在PCB布局上缩短ADC输入走线，减少寄生电容。
mcuku 阿沐 · 2026-08-27